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~institution:"American Institute of Banking"
~institution:"Europäische Kommission"
~institution:"School of Economics, Universiteit Utrecht"
~institution:"Westfälische Wilhelms-Universität Münster / Institut für Revisionswesen"
~institution:"ZEW"
~person:"Jerschensky, Andreas"
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Type of publication
All
Book / Working Paper
1
Type of publication (narrower categories)
All
Hochschulschrift
1
Thesis
1
Language
All
German
1
Author
All
Jerschensky, Andreas
Rammer, Christian
4
Grift, Y.K.
3
Baetge, Jörg
2
Nijeholt, M.P. Lycklama à
2
Blommaert, J.M.J.
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Breithaupt, Patrick
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Nijeholt, M. Lycklama a
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Schubert, Torben
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Trunschke, Markus
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Institution
All
American Institute of Banking
Europäische Kommission
School of Economics, Universiteit Utrecht
Westfälische Wilhelms-Universität Münster / Institut für Revisionswesen
ZEW
Published in...
All
Schriften des Instituts für Revisionswesen der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster
1
Source
All
ECONIS (ZBW)
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1
Messung des Bonitätsrisikos von Unternehmen : Krisendiagnose mit künstlichen neuronalen Netzen
Jerschensky, Andreas
-
1998
Persistent link: https://www.econbiz.de/10000674583
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