Cross-impact analysis of RFID scenarios for logistics
Heiko Duin; Martin Schnatmeyer; Jens Schumacher; Klaus-Dieter Thoben; Xinhong Zhao
| Year of publication: |
2005
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| Authors: | Duin, Heiko ; Schnatmeyer, Martin ; Schumacher, Jens ; Thoben, Klaus-Dieter ; Zhao, Xinhong |
| Published in: |
Logistik Management : innovative Logistikkonzepte ; [... auf der Tagung Logistik Management 2005 ... Die Tagung fand vom 04. bis 06. Oktober 2005 an der Technischen Universität Dresden satt]. - Wiesbaden : Dt. Univ.-Verl., ISBN 3-8350-0155-8. - 2005, p. 363-376
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| Subject: | Innovationsdiffusion | Innovation diffusion | IT-gestützte Logistik | Computer-aided logistics | Szenariotechnik | Scenario analysis | Welt | World | RFID |
| Extent: | graph. Darst |
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| Type of publication: | Article |
| Type of publication (narrower categories): | Aufsatz im Buch ; Book section |
| Language: | English |
| Source: | ECONIS - Online Catalogue of the ZBW |
Persistent link: https://www.econbiz.de/10003163203