Review of MEMS metrology solutions
Year of publication: |
2008
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Authors: | Nichols, James F. ; Shilling, Meghan ; Kurfess, Thomas R. |
Published in: |
International journal of manufacturing technology and management. - Milton Keynes [u.a.] : Inderscience Enterprises, ISSN 1368-2148, ZDB-ID 2037402-1. - Vol. 13.2008, 2/3/4, p. 344-359
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Subject: | Elektronik | Electronics | Mikrosystemtechnik | Microsystems |
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