Extent: | Online-Ressource (XVIII, 394 S, online resource) |
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Series: | |
Type of publication: | Book / Working Paper |
Language: | German |
Notes: | Description based upon print version of record Inhaltsverzeichnis; Vorwort zur vierten Auflage; Vorwort zur dritten Auflage; Vorwort zur zweiten Auflage; Vorwort zur ersten Auflage; EINFÜHRUNG; Six Sigma+Lean - eine weltweite ErfolgsgeschichteSind 25 Jahre genug?; Six Sigma versus Lean Management - eine Konkurrenz?; Vom Toolset zum Mindset: Was bedeutet das in der unternehmerischen Praxis?; Business Excellence als Schlüssel für nachhaltigen Erfolg; Excellence Mindset in der Projektarbeit; DEFINE Was ist das Problem?; Zusammenfassung DEFINE-Phase; Roter Faden DEFINE-Phase; Werkzeugübersicht DEFINE-Phase; Project Charter; Nutzenrechnung ProjektrahmenMultigenerationsplan; SIPOC; Abhängigkeitsbetrachtung; Projektmanagement; Projektstrukturplan; Netzplan; Zeitplanung; Ressourcenplanung; RACI Chart; Budgetplanung; Risikomanagement; Stakeholder-Management; Kick-off-Meeting; Projektkommunikation; Kundenbedürfnistabelle; Kano-Modell; Tool 1; Gate Review; Gate Review DEFINE; MEASURE Wie groß ist das Problem?; Zusammenfassung MEASURE-Phase; Roter Faden MEASURE-Phase; Werkzeugübersicht MEASURE-Phase; Tool 2; Daten sammeln; Operationale Definition; Datenart; Erfassungsformulare; Stichprobenstrategie; Messsystemanalyse (MSA) Gage R&R für diskrete (binäre) DatenMesssystemanalyse Typ I; Messsystemanalyse Typ II; Untersuchung von Linearität und systematischen Messabweichungen; Prüfung der Qualität vorhandener Daten; Datensammlungsplan; Variation verstehen; Tortendiagramm; Balkendiagramm; Pareto-Diagramm; Punktdiagramm; Histogramm; Box Plot; Verlaufsdiagramm; Regelkarten; Streudiagramm; Wahrscheinlichkeitsnetz; Lageparameter Mittelwert; Lageparameter Median; Streuungsparameter Varianz; Streuungsparameter Standardabweichung; Streuungsparameter Spannweite; Streuungsparameter Span; Prozessleistung Defects per Million Opportunities (DPMO)Parts per Million (ppm); Defects per Unit (DPU); Yield; Span/Perzentilabstand; Datentransformation; Prozessfähigkeit und Prozessstabilität; Cp- und Cpk-Werte; Gate Review MEASURE; ANALYZE Was sind die Kernursachen des Problems?; Zusammenfassung ANALYZE-Phase; Roter Faden ANALYZE-Phase; Werkzeugübersicht ANALYZE-Phase; Ursache-Wirkung-Diagramm; FMEA; TOOL 3; Prozess analysieren; Spaghettidiagramm; Prozessflussdiagramm; Prozessfunktionsdiagramm; Wertstromdiagramm; Wertanalyse; Zeitanalyse; Prozesseffizienz; Kapazitätsanalyse; Prozessflussanalyse Daten analysierenDatenschichtung; Konfidenzintervall; Hypothesentests; ANOVA/einfaktorielle Varianzanalyse; ANOVA/zweifaktorielle Varianzanalyse; Korrelationskoeffizient; Einfache lineare Regression; Multiple lineare Regression; Logistische Regression; Design Of Experiments (DOE); Vollfaktorielle Versuchspläne; Teilfaktorielle Versuchspläne; Variationsreduktion; Response Surface Methoden; Weitere Versuchspläne; Hauptursachen ableiten; Gate Review ANALYZE; IMPROVE Was sind die Lösungen zur Behebung der Ursachen?; Zusammenfassung IMPROVE-Phase; Roter Faden IMPROVE-Phase Werkzeugübersicht IMPROVE-Phase |
ISBN: | 978-3-642-39945-9 ; 978-3-642-39944-2 |
Other identifiers: | 10.1007/978-3-642-39945-9 [DOI] |
Classification: | Fertigung |
Source: | ECONIS - Online Catalogue of the ZBW |
Persistent link: https://www.econbiz.de/10014016903